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Campo DCValorIdioma
dc.contributor.advisor1Silva, Erik Vitor da-
dc.creatorSilva, Gabriel Fonseca e-
dc.date.accessioned2018-11-01T12:51:04Z-
dc.date.available2018-11-01T12:51:04Z-
dc.date.issued2014-12-18-
dc.identifier.urihttp://repositorio.unis.edu.br/handle/prefix/221-
dc.description.abstractThis paper consists of a survey of the context of scientific and industrial metrology, the challenges encountered primarily for measuring complex parts and large, directing studies the techniques of three-dimensional measurements using optoelectronic devices and laser scanners as a way to support the companies in monitoring the implementation of industrial deployments, dimensional control and quality control, through a theoretical survey covering this topic from several sources, including internationally, to assist in forming the ideal backdrop. So that at the end of this study, the context of three-dimensional measurements, especially contactless is widely discussed and touted as the best option currently for the branch of dimensional metrology in the industrial manufacturing sector, which is increasingly competitive and demanding in refers to the quality control and the traceability of processes.pt_BR
dc.description.resumoEste trabalho consiste de uma pesquisa sobre o contexto da metrologia científica e industrial, os desafios encontrados principalmente para medição de peças complexas e de grande porte, direcionando os estudos as técnicas de medições tridimensionais utilizando equipamentos optoeletrônicos e scanners a laser, como forma de apoio as empresas no acompanhamento da execução de implantações industriais, controle dimensional e controle de qualidade, através de um levantamento teórico abordando este assunto em diversas fontes, inclusive internacionais, para auxiliar na formação do contexto ideal. De forma que ao fim deste estudo, o contexto sobre medições tridimensionais, principalmente as sem contato seja amplamente abordado e apontado como a melhor opção atualmente para o ramo da metrologia tridimensional no setor industrial de manufatura, que é cada vez mais competitivo e exigente no que se refere ao controle de qualidade e de rastreabilidade dos processos.pt_BR
dc.description.provenanceSubmitted by Regiane Paulino (regiane.paulino@unis.edu.br) on 2018-11-01T12:51:04Z No. of bitstreams: 1 TCC 2014 - Gabriel Fonseca e Silva.pdf: 7605629 bytes, checksum: 92ba8f96fe98d2526ca350e1d0a04e82 (MD5)en
dc.description.provenanceMade available in DSpace on 2018-11-01T12:51:04Z (GMT). No. of bitstreams: 1 TCC 2014 - Gabriel Fonseca e Silva.pdf: 7605629 bytes, checksum: 92ba8f96fe98d2526ca350e1d0a04e82 (MD5) Previous issue date: 2014-12-18en
dc.languageporpt_BR
dc.publisherFundação de Ensino e Pesquisa do Sul de Minaspt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.publisher.departmentCentro Universitáriopt_BR
dc.publisher.initialsFEPESMIGpt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.subjectMetrologia Tridimensionalpt_BR
dc.subjectScannerspt_BR
dc.subjectControle Dimensionalpt_BR
dc.subject.cnpqCNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA MECANICApt_BR
dc.titleUTILIZAÇÃO DE EQUIPAMENTOS OPTOELETRÔNICOS E SCANNERS COMO SOLUÇÃO METROLÓGICA NO CONTROLE DIMENSIONAL DE PEÇAS E EQUIPAMENTOSpt_BR
dc.title.alternativeGABRIEL FONSECA E SILVApt_BR
dc.typeTrabalho de Conclusão de Cursopt_BR
Aparece nas coleções:Engenharia Mecânica

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