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http://repositorio.unis.edu.br/handle/prefix/221| metadata.dc.type: | Trabalho de Conclusão de Curso |
| Título : | UTILIZAÇÃO DE EQUIPAMENTOS OPTOELETRÔNICOS E SCANNERS COMO SOLUÇÃO METROLÓGICA NO CONTROLE DIMENSIONAL DE PEÇAS E EQUIPAMENTOS |
| Otros títulos : | GABRIEL FONSECA E SILVA |
| metadata.dc.creator: | Silva, Gabriel Fonseca e |
| metadata.dc.contributor.advisor1: | Silva, Erik Vitor da |
| metadata.dc.description.resumo: | Este trabalho consiste de uma pesquisa sobre o contexto da metrologia científica e industrial, os desafios encontrados principalmente para medição de peças complexas e de grande porte, direcionando os estudos as técnicas de medições tridimensionais utilizando equipamentos optoeletrônicos e scanners a laser, como forma de apoio as empresas no acompanhamento da execução de implantações industriais, controle dimensional e controle de qualidade, através de um levantamento teórico abordando este assunto em diversas fontes, inclusive internacionais, para auxiliar na formação do contexto ideal. De forma que ao fim deste estudo, o contexto sobre medições tridimensionais, principalmente as sem contato seja amplamente abordado e apontado como a melhor opção atualmente para o ramo da metrologia tridimensional no setor industrial de manufatura, que é cada vez mais competitivo e exigente no que se refere ao controle de qualidade e de rastreabilidade dos processos. |
| Resumen : | This paper consists of a survey of the context of scientific and industrial metrology, the challenges encountered primarily for measuring complex parts and large, directing studies the techniques of three-dimensional measurements using optoelectronic devices and laser scanners as a way to support the companies in monitoring the implementation of industrial deployments, dimensional control and quality control, through a theoretical survey covering this topic from several sources, including internationally, to assist in forming the ideal backdrop. So that at the end of this study, the context of three-dimensional measurements, especially contactless is widely discussed and touted as the best option currently for the branch of dimensional metrology in the industrial manufacturing sector, which is increasingly competitive and demanding in refers to the quality control and the traceability of processes. |
| Palabras clave : | Metrologia Tridimensional Scanners Controle Dimensional |
| metadata.dc.subject.cnpq: | CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA MECANICA |
| metadata.dc.language: | por |
| metadata.dc.publisher.country: | Brasil |
| Editorial : | Fundação de Ensino e Pesquisa do Sul de Minas |
| metadata.dc.publisher.initials: | FEPESMIG |
| metadata.dc.publisher.department: | Centro Universitário |
| metadata.dc.rights: | Acesso Aberto |
| URI : | http://repositorio.unis.edu.br/handle/prefix/221 |
| Fecha de publicación : | 18-dic-2014 |
| Aparece en las colecciones: | Engenharia Mecânica |
Ficheros en este ítem:
| Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
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| TCC 2014 - Gabriel Fonseca e Silva.pdf | 7,43 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
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